SOFTWARE

El International Centre for Diffraction Data® (ICDD®) es una organización científica sin fines de lucro dedicada a recopilar, editar, publicar y distribuir datos de difracción de polvo para la identificación de materiales cristalinos.

Las Bases de Datos PDF

El Powder Diffraction File contiene más de 817.809 entradas de datos de materiales únicos. Cada conjunto de datos contiene datos de difracción, datos cristalográficos y bibliográficos, así como también las condiciones experimentales, instrumentales y de muestras, junto a la información propiedades físicas seleccionadas en un formato estandarizado común. El PDF contiene información de trabajos colectivos de más de 2.000 revistas periódicas especializadas y cientos de miles de autores. El ICDD recolecta datos de nuevos materiales, emergentes y comerciales, a través de un Programa Anual de Apoyo. Cada año, a unos 50 importantes laboratorios de materiales del mundo se les otorga apoyo para que analicen y caractericen nuevos materiales para su inclusión en el PDF. La cobertura más grande y completa del PDF se logra a través de procesos de revisión bibliográfica realizada por el propio ICDD, también por medio de colaboraciones con las bases de datos de organizaciones globales.

 

La base de datos es diseñada y producida en varios formatos con la finalidad de servir a diferentes grupos de usuarios.

PDF-2

El PDF-2 del 2015 del Powder Diffraction File contiene 278.503 entradas de la colección de datos experimentales en polco de ICDD, así como datos recopilados, editados y estandarizados de las bases de datos NIST y FIZ. PDF-2 está diseñado para análisis de materiales inorgánicos utilizando difractómetros automatizados. El PDF-2 del 2015 exhibe capacidades amigables, incluido nuestro software de búsqueda de datos integrados. Este software proporciona más capacidades de visualización, búsqueda y filtrado de datos utilizando 48 campos de visualización y 61 búsquedas. Cada entrada contiene una tabla de espaciamientos interplanares e intensidades relativas, y la mayoría también contiene índices de Miller. También se incluye información adicional como fórmula química, nombre de compuestos, nombre de minerales, fórmula estructural, sistema cristalino, datos físicos, parámetros experimentales y referencias si ésta es conocida. Cada entrada pasa por una revisión editorial rigurosa y ha sido indexada para búsqueda por subcarpetas.

 

El PDF-2 incorpora el histórico Powder Diffraction File en CD. Esta base de datos está integrada a los sistemas de software de los fabricantes de equipos de difracción de rayos-X más importantes. Junto con el software de análisis de datos de los OEM, el PDF ofrece a científicos capacidades rápidas de análisis basadas en PC que les permite la identificación de materiales en los mejores laboratorios alrededor del mundo. La licencia de PDF-2 tiene una validez de 5 años. Al final del período de vigencia de la licencia, la licencia del producto se ampliará otros cinco (5) años, sin coste, siempre que el usuario titular de la licencia tenga el mismo nombre de organización y la misma dirección (es decir, el usuario registrado) y la licencia del producto no se haya renovado previamente ni se haya convertido a un producto PDF-4+.

SIeve, el software de búsqueda de índices del ICDD, posibilita la búsqueda e identificación rápida de materiales utilizando las búsquedas de Hanawalt, Fink y Long-8 altamente automatizadas. SIeve utiliza el poder computacional dinámico de los modernos PC para realizar con mayor rapidez búsquedas permutadas en cientos de miles de entradas de datos. Esto hace posible el uso de los algoritmos Fink y Long-8 que son imprácticos con material impreso, debido a su enorme tamaño. Otra característica es la rotación automática de las 8 líneas más fuertes (Hanawalt) o las 8 líneas más largas entre las más fuertes (Fink) o las 8 líneas más largas (Long 8) para buscar superposiciones que exhiban los mejores “Goodness of Match”(GOM). Hemos implementado una figura de mérito “Pattern GOM” que muestra una comparación, como los manuales impresos, donde todas las líneas del patrón desconocido deben superponerse con las líneas del o los patrones de referencia. La visualización de SIeve permite una comparación adicional GOM estándar y el GOM del patrón.

 

El SIeve trabaja tanto con entradas de pares de datos d/I o archivos electrónicos que contienen datos d/I o 2-theta/I. Una opción flexible de importación de texto puede leer una gran variedad de archivos de entrada, cualquier cantidad de pares d/I puede ser importada. SIeve está vinculado a las búsquedas Globales y a las Preferencias de Búsqueda de nuestro software para visualización integrado. Esto significa que un usuario puede definir un filtro de entradas en SIeve basándose en cualquiera de los 45 métodos de búsqueda o combinaciones de ellas. Los resultados del SIeve también pueden ser integrados al criterio de búsqueda de nuestro software de visualización.

PDF-4+ es una base de datos avanzada que combina las fuentes más grandes de datos de difracción de cristales y polvos de materiales inorgánicos a nivel mundial, en una sola base de datos. El resultado es una colección completa de materiales inorgánicos, producidos en un formato estandarizado que puede ser consultado rápidamente para identificar materiales.

 

Esta base de datos contiene numerosas características novedosas tales como, patrones de difracción digitalizados, gráficos moleculares y parámetros atómicos. Muchas de las características han sido incorporadas en el PDF-4+ para aumentar la capacidad de realizar análisis cuantitativos por cualquiera de los tres métodos: Análisis de Rietveld, Relación de Intensidades de Referencia (RIR) o Análisis del Patrón Completo. El PDF-4+ 2015 contiene 364.877 entradas, mientras que el PDF-4/Minerales 2015 contiene 42.852 entradas.

 

El PDF-4+ está diseñado para soportar análisis cuantitativos automáticos utilizando los datos de referencia claves requeridos para estos análisis. Todos los patrones, independientemente del tipo o fuente de los datos, pueden ser vistos en forma de patrón digitalizado, facilitando la capacidad de realizar un análisis completo del patrón. Se utilizan tres algoritmos diferentes para calcular el difractograma que se muestra, dependiendo de la fuente de los datos y la información requerida. El PDF-4+ automáticamente escoge el algoritmo apropiado para tal propósito y luego permite al usuario cambiar las condiciones dependiendo de las condiciones propias del usuario. El usuario tiene la posibilidad de definir los diversos parámetros instrumentales, las configuraciones ópticas y los parámetros experimentales, incluyendo tamaño de dominio cristalino en dichos cálculos.

El PDF-4+ incluye 268,838 entradas con Relaciones de Intensidades de Referencia (I/Ic) que han sido, o bien calculados a través de estudios de monocristal o bien obtenidas experimentalmente. En un análisis RIR, todas las fases necesitan ser identificadas y cada una de ellas debe tener su valor RIR. La gran cantidad de entradas con valores RIR posibilita el uso frecuente de este método para análisis cuantitativo.

 

Las coordenadas atómicas que se encuentran en 251.640 entradas, provenientes del LPF, ICDD y NIST, permiten la realización de varios cálculos basados en la física de la dispersión y la difracción. Las técnicas de Rietveld pueden utilizar los parámetros atómicos para análisis cuantitativos y refinamiento estructural. La base de datos PDF-4+ contiene varias tablas de factores de dispersión, de manera que se pueden calcular patrones de difracción de electrones, difracción de rayos-X a longitudes de onda variables y difracción de neutrones, a partir de primeros principios.

 

El PDF-4+ contiene mas datos y mayor variedad de datos permitiendo la identificación rápida de materiales. Está diseñada para soportar análisis cuantitativos automáticos al proveer los datos de referencia claves requeridos para estos análisis. Cada patrón, independientemente del tipo o fuente, puede ser mostrado como un patrón digitalizado, facilitando la realización de análisis total de patrones. Hemos seguido fortaleciendo el proceso de identificación y cuantificación de materiales añadiendo más datos con I/Ic y con coordenadas atómicas. Las interfaces Java™ han mejorado la velocidad, conveniencia y la disponibilidad de varias opciones de nuevas disposiciones para mostrar patrones digitalizados y para el manejo y la extracción de datos.

¿Cuál es la base de datos ICDD más adecuada para usted?

 

http://www.icdd.com/products/flyers/Which_Database_Flyer.pdf

 

WEB: www.icdd.com

 

Match! is an easy-to-use software for phase identification from powder diffraction data. It compares the diffraction pattern of your sample to a database containing reference patterns in order to identify the phases which are present. Additional knowledge about the sample like known phases, elements or density can be applied easily.

In addition to this qualitative analysis, a quantitative analysis (using Rietveld refinement) can be performed as well. You can easily setup and run Rietveld refinements from within Match!, with the actual calculations being performed automatically, using the well-known program FullProf (by J. Rodriguez-Carvajal) in the background. Match! provides a gentle introduction into Rietveld refinement, from fully automatic operation to the "Expert" mode. The software runs natively on Windows, Mac OS X and Linux.

As reference database, you can apply the included free-of-charge COD database and/or ICSD/Retrieve (if you have a valid licence), use any ICDD PDF product, and/or create a user database based on your own diffraction patterns. The user database patterns can be edited manually, imported from peak files, calculated from crystal structure data (e.g. CIF files), or imported from your colleague's user database.

Jade was created to dramatically take advantage of your powerful PC and operating system to provide you with extraordinarily responsive, in-depth real-time analysis. We’re proud to offer Jade as your next step in what promises to be an incredibly rewarding journey. Don’t get left behind! Even if your new hardware came with vendor-supplied software designed in-house by your hardware vendor, you deserve the feature-rich tools that only Jade can provide. We work hard to continuously improve our software on a daily basis. As a result you will find our software in the best Labs and Universities around the world and accepted as the gold-standard in XRD.

Siroquant is the premier Rietveld Quantitive package on the market today.  Developed in partnership with the CSIRO, Siroquant currently has more than 500 customers worldwide, spread across 50 countries.

 

The latest SQ V4.0 is equipped with advanced features & user friendly design including MS Word /Office integration, batch processing and reporting and dock-able windows to use with multiple screens.  Siroquant comes standard with a comprehensive database of over 1800 phases, and with the SiPhase add-on, phases from public sources such as the ICSD and AMCSD can also easily be added.

 

APPLICATIONS:

Geological Materials

Mineralogy of Sedimentary rocks in oil exploration

Limestones

Iron Ores

Bauxite

Base Metals

Hydrothermally altered minerals in mineral exploration

Deleterious minerals such as sulphates, sulphides, zeolites etc in aggregates

Clay minerals

Mineral Processing

Cement Industry

Pigments

Heavy metals, rutile, zircon etc

Mineralogy of concentrates, middlings and tails from concentration plants

Mineralogy of inorganic material in coal

Environmental analysis

Mineralogy of contaminated lands sites and speciation of elements eg arsenic etc

Identification and quantification of free silica in dust samples

Quantification of amorphous compound


TOPAS-Academic V5

by Coelho Software

 

TOPAS-Academic is a Windows XP based (or later) general non-linear least squares system driven by a scripting language. Its main focus is in crystallography, solid state chemistry and optimization. At the core of TA is its superb minimization routines wrapped by a computer algebra system; it is this foundation that makes subject dependent modules such as Rietveld refinement shine.

 

The main features include:

  • Computer algebra system for function minimization and for the application of linear/non-linear constraints.
  • A fully functional Rietveld program for laboratory x-ray diffraction, synchrotron, single crystal and neutron fixed wavelength and TOF data.
  • A simulated annealing algorithm for all systems including structure solution in real space from powder, neutron, neutron TOF and single crystal data.
  • An indexing algorithm.
  • A command line program called TC.EXE which comprises the Kernel of TA; used for batch processing.

 

Who is it for

 

 

TOPAS-Academic is for scientists and PhD students working in the fields of crystallography, solid state chemistry, optimization and function minimization in general. Requests for TA without crystallographic modules or as a teaching aid should be made to the author.

 

Fourier maps

-   For x-ray or neutron single crystal or powder data.

-  Calculated from standard TOPAS INP files with an OpenGL display showing the electron density cloud, structure and picked atoms.
-   Allows for enlargement of the Ewaldsphere with Fobs set to Fcalc.
-   Inserts missing reflections within the Ewaldsphere with Fobs set to Fcalc
- Comprises a computer algebra equation that can be a function of Fobs, Fcalc and D_spacing, for example:
fourier_map_formula = 2 Fobs - Fcalc;

 

For single crystal refinement

-   Implementation of the Flack parameter.
-   Ouput of more single crystal details with phase symmetry considered.

 

Improvements

-   Bootstrap errors for fractional coordinates that are a function of a rigid body.

-  Enhanced computer algebra routines whereby 10s of thousands of equations can be loaded    and simplified without difficulty. Each node of an equation requires on average 10 bytes of      memory.

 

-  INP files are more rigorously validated, for example, parameter input such as 1/3 are now        disallowed; instead an equation such as =1/3; is necessary. In addition parameters that              cannot be a function of multivalued parameters are now checked. For example, an x                  coordinate written in terms of H, K, L etc... will throw an exception. Validation is also                  performed regarding the type of multivalued parameters used in equations. For example,        the fourier_map_formula can only be a function of its multivalued parameters of Fobs, Fcalc    and D_spacing.

Contacto

 

Spectramex, S.A. de C.V.

 

Tel: + 52 (55) 55629289

Fax: +52 (55) 53930318

spectramex@aol.com

spectramex@gmail.com

www.spectramex.com.mx